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當(dāng)前位置:首頁(yè)技術(shù)文章紫外近紅應(yīng)用-薄膜測(cè)量

紫外近紅應(yīng)用-薄膜測(cè)量

更新時(shí)間:2014-08-20點(diǎn)擊次數(shù):3782

實(shí)驗(yàn)三  紫外可見(jiàn)反射薄膜測(cè)量

目的:研究薄膜的光學(xué)透射性能

檢測(cè):不同金屬薄膜在紫外可見(jiàn)近紅外的光譜  

原理:研究薄膜的光學(xué)透射性能以及均勻性

試驗(yàn)方法:

采用紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)中波長(zhǎng)掃描方式,做基線,后測(cè)定樣品

測(cè)定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見(jiàn)區(qū)光學(xué)性能不同

圖表 1 不同位置反射率

 

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