二氧化硅是一種重要的無機材料，在紅外光譜分析中具有廣泛的應用。紅外光譜是通過測量物質在紅外輻射區(qū)域的吸收和散射來研究其分子結構和化學特性的一種方法。
二氧化硅的紅外光譜測定主要基于其分子振動模式引起的吸收峰。在紅外光譜圖上，常見的吸收峰包括伸縮振動、彎曲振動和對稱拉伸振動等。
二氧化硅的主要吸收峰位于1000-1200cm^-1的區(qū)域，這些峰代表了硅氧鍵的伸縮振動。此外，還存在于800-1100cm^-1范圍內的Si-O-Si彎曲振動峰。這些振動模式提供了關于二氧化硅的分子結構和鍵合情況的信息。
FTIR920的軟件
視窗軟件隨整套系統(tǒng)一并提供。此軟件能滿足全部標準分析的要求，包括光譜數(shù)據(jù)處理、儀器控制、多圖同時預覽。在干涉圖或光譜的分析模型上，也能提供濾波、基線校正、交互編輯和數(shù)據(jù)操作。同時也有光譜扣除、混合扣除、濾波衍生、譜圖預覽等功能。數(shù)據(jù)輸入和輸出可以是ASCII 或JCAMP格式。其他包括Thermo/Galactic GRAMS在內的商業(yè)程序也可以使用，例如圖庫搜索。Interspec軟件程序是在32位保護模式下編寫的。我們?yōu)椴煌δ艿膽迷O計了專門的軟件，這些軟件操作簡便而且免費提供。通過添加其他商業(yè)程序，比如：搜索、成份識別、Kramers Kronig變換、化學統(tǒng)計等，對程序的功能進行擴展,從而滿足個別需求。
二氧化硅的紅外光譜測定的方法通常涉及將樣品制備成適當?shù)男问?，如固體薄片、顆?；蛉芤海⒗眉t外光譜儀進行測量。儀器通過向樣品施加紅外輻射，測量經過樣品后未被吸收的光的強度變化。
在進行紅外光譜測定時，需要注意一些因素。首先，樣品應該足夠純凈，以避免其他雜質對光譜結果的影響。其次，在選擇紅外輻射源和檢測器時，應根據(jù)所需的波長范圍和靈敏度進行合理選擇。此外，還需要校準儀器，并使用適當?shù)膮⒖嘉镔|進行光譜數(shù)據(jù)的分析和解釋。
服務熱線：022-88289916
產品型號：FTIR920
更新時間：2025-06-24
廠商性質：生產廠家
訪 問 量 ：3640
當前位置：
上一個：
返回列表
